Charakterisierung optronischer Systeme / Prüfdienstleistungen

Für ein leistungsfähiges optronisches System müssen alle Komponenten in hoher Qualität ausgeführt sein. Schon eine einzelne nicht optimale Komponente kann die Gesamtleistung des Systems erheblich beeinträchtigen. Wir verfügen daher über umfangreiche Mess- und Prüfeinrichtungen zur Charakterisierung und Qualitätsbestimmung von Komponenten optronischer Systeme.
Insbesondere verfügen wir über die Möglichkeit zur
- Charakterisierung von Kameras
- z.B. entsprechend EMVA 1288
- z.B. entsprechend EMVA 1288
- Charakterisierung von Optiken
- Bestimmung von Auflösung und MTF nach ISO 12233:2017 und weiteren Normen
- Bestimmung der Verzeichnung
- spektrale Transmissionsmessung
- Charakterisierung von Beleuchtungseinheiten
- Bestimmung photometrischer (z.B. Leuchtdichte) und radiometrischer (z.B. Strahldichte) Größen
- räumliche und zeitliche Verteilung
- Spektrale Verteilung, Wellenlänge
- Charakterisierung von optischen Filtern
- spektrale Transmissionsmessung
- spektrale Reflexionsmessung
- Bestimmung Absorptionsgrad
Zusätzlich zu den einschlägigen Normenwerken prüfen wir auch nach hausinternen und kundenspezifischen Prüfvorschriften.