Charakterisierung optronischer Systeme / Prüfdienstleistungen
Für ein leistungsfähiges optronisches System müssen alle Komponenten in hoher Qualität ausgeführt sein. Schon eine einzelne nicht optimale Komponente kann die Gesamtleistung des Systems erheblich beeinträchtigen. Wir verfügen daher über umfangreiche Mess- und Prüfeinrichtungen zur Charakterisierung und Qualitätsbestimmung von Komponenten optronischer Systeme.
Charakterisierung von Kameras
- z.B. entsprechend EMVA 1288
Charakterisierung von Optiken
- Bestimmung von Auflösung und MTF nach ISO 12233:2017 und weiteren Normen
- Bestimmung der Verzeichnung
- spektrale Transmissionsmessung
Charakterisierung von Beleuchtungseinheiten
- Bestimmung photometrischer (z.B. Leuchtdichte) und radiometrischer (z.B. Strahldichte) Größen
- räumliche und zeitliche Verteilung
- Spektrale Verteilung, Wellenlänge
Charakterisierung von optischen Filtern
- spektrale Transmissionsmessung
- spektrale Reflexionsmessung
- Bestimmung Absorptionsgrad
Zusätzlich zu den einschlägigen Normenwerken prüfen wir auch nach hausinternen und kundenspezifischen Prüfvorschriften.
- sales@leosys.de
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- Käsackerweg 7 69469 Weinheim
